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九游娱乐官网-欧姆龙成功事例 | EFEM多材质晶圆的凸出检测方案

应用介绍

【行业】SEMI

【设备】EFEM

【用途】用于半导体前道各种工艺机台的晶圆传输

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使用场景

检测cassette内wafer是否有凸出,防止自动取片时发生异常。

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场景:cassette内wafer的突出检查

解决课题

应对不同材质wafer的检测需求,例如:Si、SiC、Ga2O3等。

价值提案

核心产品:光纤传感器 E32/E3NX-FA

配备自动调谐、以及APC&DPC自动投光&受光校正,方便快速对应各种透明度的wafer。

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相关产品

光纤传感器E32系列

https://www.fa.omron.com.cn/products/family/1532/

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智能光纤放大器E3NX-FA

https://www.fa.omron.com.cn/products/family/3161/

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若您对本产品感兴趣,欢迎扫码留下您的联系方式,欧姆龙工程师将尽快与您联络!

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