霍尔效应测试系统是集成Keithley2400/2600系列高精度源表和Semishare polaris高低温平台，采用范德堡尔法则设计，应用于高精度的测量半导体材料的载流子类型（P型/N型）、载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等参数，能够适用于Si、SiGe、SiC、GaAs、InGaAs、InP、GaN等半导体材料。
霍尔效应测试系统
霍尔效应测试系统是集成Keithley2400/2600系列高精度源表和Semishare polaris高低温平台，采用范德堡尔法则设计，应用于高精度的测量半导体材料的载流子类型（P型/N型）、载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等参数，能够适用于Si、SiGe、SiC、GaAs、InGaAs、InP、GaN等半导体材料。
| 产品型号 | HALL | 工作环境 | Windows98/ME/2000/NT/XP环境下 |
| 电力需求 | / | 操控方式 | / |
| 产品尺寸 | / | 设备重量 | / |
霍尔效应测试系统是一款应用于各种半导体材料高精度测量的软件集成系统。
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